炉子温度对光纤强度的影响
高温拉丝过程中发生点缺陷将导致光纤机械强度劣化，已发现的最重要的点缺陷之一E′缺陷是Si-O链断裂产生的，Si-O链断裂和重新链合时动态变化的，E缺陷的浓度取决于Si-O链断裂和重新链合的平衡结果。E缺陷的浓度随拉丝炉加热区长度增加而增加，随拉丝速度增加而降低，加热区长导致预制棒在高温区时间加长，从而导致Si-O链断裂产生的频率更高。有研究表明，当加热炉温度从2200K增加到3000K时，刚从加热炉出来的裸光纤的缺陷浓度就会增加二个数量级。
同时由于高温下，炉中的石墨件挥发产生如下反应：
反应生成的SiC是一种硬度较高的微粒，在加热炉内若裸光纤被SiC微粒碰的，光纤表面会产生缺陷和裂纹。而当加热炉内温度越高，反应生成的SiC微粒的数量就越多，所以裸光纤表面被碰伤的机率就越高，光纤表面产生的缺陷越多，光纤强度就越低。 |
